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光切显微镜可用于测量哪些表面粗糙度参数

发表时间:2024-07-27 23:53:23 来源:网友投稿

光切显微镜是一种常用的表面粗糙度测试仪器,可以测量表面的三维形貌和粗糙度参数。其中常用的表面粗糙度参数包括Ra、Rz、Rq等,这些参数可以反映表面的平均粗糙度、最大峰-谷值、均方根粗糙度等特征,是评价表面质量的重要指标。

通过光切显微镜测量表面粗糙度参数,可以有效地评估材料的表面质量,对于生产加工工艺的控制和优化具有重要意义。

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