半导体晶体类型
半导体晶体可分为单晶和多晶,若在整块材料中,原子都是规则的、周期性的重复排列的,一种结构贯穿整体,这样的晶体称为单晶,如石英单晶,硅单晶,岩盐单晶等.多晶是由大量微小的单晶随机堆砌成的整块材料.实际的晶体绝大部分是多晶,如各种金属材料和电子陶瓷材料.由于多晶中各晶粒排列的相对取 向各不相同,其宏观性质往往表现为各向同性,外形也不具有规则性。
半导体材料硅、锗等都属金刚石结构.金刚石结构可以看成是沿体对角线相互错开四分之一对角线长度的面心立方元胞套构而成的。
晶面与晶向
晶体具有各向异性的特征,在研究晶体的物理特征时,通常必须标明是位于什么方位的面上或沿晶体的什么方向,为此引入晶面与晶向的概念.为了便于确定和区别晶体中不同方位的晶向和晶面,国际上通用密勒指数来统一标定晶向指数与晶面指数.
晶向指数
以晶胞的某一阵点O为原点,过原点O设定坐标轴X、Y、Z,以晶胞点阵矢量的长度作为坐标轴的长度单位;过原点O作一平行于待定晶向的直线,在该直线上选取距原点O最近的一个阵点,确定此点的3个坐标值;将这3个坐标值化为最小整数u,v,w,加以方括号.[u v w]即为待定晶向的晶向指数.
晶向指数代表所有相互平行、方向一致的晶向.
晶面指数
在点阵中设定参考坐标系,设置方法与确定晶向指数时相同;选出晶面族中不经过原点的晶面,确定该晶面在各坐标轴上的截距;取各截距的倒数;将三倒数化为互质的整数比,并加上圆括号,即表示该晶面的指数,记为( h k l ).
当晶面的某一截距为负数时,在相应的指数上部加"-"号.当晶面与某一坐标轴平行时,则认为晶面与该轴的截距为∞,其倒数为0.
晶面指数所代表的不仅是某一晶面,而是代表所有相互平行的晶面.
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