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脉冲金属探测仪实际探测深度

发表时间:2024-07-29 15:50:01 来源:网友投稿

脉冲金属探测仪的实际探测深度取决于多个因素,包括探测器的频率、探测目标的大小和深度、土壤条件等。

一般来说较高频率的探测器可以提供更高的分辨率,但深度较浅;而较低频率的探测器可以达到更深的探测深度,但分辨率较低。

另外大型金属目标通常可以被探测到更深的深度,而小型目标则限制了探测深度。

最终的实际探测深度还受到土壤条件的影响,如含水量、矿化程度等。所以脉冲金属探测仪的实际探测深度是一个综合考虑多个因素的结果。

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