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ixys可控硅怎么测量好坏

发表时间:2024-07-29 23:36:13 来源:网友投稿

要测量IXYS可控硅的好坏,可以通过以下几种方法:

1. 观察外观:检查可控硅是否有明显的物理损坏、烧毁或变形等情况。

2. 电阻测试:使用万用表测量可控硅的电阻,应该能够接近其标称阻值。

3. 正向电压测试:将正向电压施加在可控硅的正极和负极上,通过电流表测量电流是否能够通过可控硅。

4. 反向电压测试:施加反向电压在可控硅的正极和负极上,通过电压表测量反向电压是否能够被可控硅阻断。

5. 触发电流测试:施加触发电流到可控硅的控制极上,通过电流表测量是否能够激活可控硅的导通。以上测试可以帮助判断IXYS可控硅的基本工作状态,但对于更细致的性能评估,可能需要使用更专业的测试设备或依靠厂家的技术规格及参数进行评估。

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