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cp测试主要流程

发表时间:2024-08-23 10:58:45 来源:网友投稿

CP测试流程:

1、可测试性设计DFT(Design For Test),可测试性设计。

如第二节CP测试内容和测试方法所述,芯片测试中用到的很多逻辑功能都需要在前期设计时就准备好,这一部分硬件逻辑就是DFT。

2、选测试厂,测试机测试厂和测试机的选择要考虑芯片类型、测试内容、测试规格和成本等因素。

3、制作ProbeCard以及Test Program选择好测试机后,硬件方面需要制作ProbeCard,软件方面需要制作Test Program。

4、调试以及结果分析Wafer由Foundry出厂转运至测试厂,ATE软硬件就绪后就可以开始进行调试了。

5、量产进入量产阶段后,根据大量测试的统计数据,可以进行一些调整以进一步优化测试流程。

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