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xps为什么要进行c校正

发表时间:2024-08-23 14:27:54 来源:网友投稿

XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)是一种表征材料表面化学状态和组成的非常重要的技术。

但是由于XPS测量的是表面物质的电子能谱,表面存在一些复杂的化学反应和吸附现象,可能会引入误差并导致数据不可靠。C校正是一种常用的方法来解决这个问题。通过添加一个已知的有机物标准样品,测量其C1s XPS能谱,并用于校正被测试表面广义的C1s能级位置,从而减少表面吸附和化学反应带来的误差。所以进行C校正是十分必要的,可以提高XPS测量数据的准确性和可靠性。

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