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什么是电子探针X射线微区分析

发表时间:2024-10-06 07:56:27 来源:网友投稿

电子探针X射线微区分析是一种微观分析技术。它利用高能电子束轰击样品表面,激发出样品内部的元素X射线,通过检测这些X射线的能量和强度,可以确定样品中元素的种类和含量。这种分析技术具有高分辨率、高灵敏度和非破坏性等特点,常用于材料科学、地质学等领域,帮助科学家们研究样品的微观结构。

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