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X射线荧光分析的基本介绍

发表时间：2024-10-08 08:50:05 来源：网友投稿

X射线荧光分析（XRF）是一种无损检测技术，用于测定物质中的元素成分。它利用X射线照射样品，激发样品中的原子发出荧光，然后测量这些荧光的波长和强度，从而确定样品中元素的含量。这种方法简便快速，适用于金属、矿物、陶瓷等多种材料的成分分析。XRF具有非破坏性、样品制备要求低、检测速度快等特点，广泛应用于地质勘探、材料科学、环境保护等领域。在检测过程中，XRF设备会发出X射线，当X射线与样品接触时，样品中的原子会被激发，释放出能量，这些能量以荧光的形式发出。通过分析这些荧光的波长和强度，可以确定样品中不同元素的含量。XRF技术具有很高的准确性和灵敏度，为科学研究、生产实践和日常检测提供了有力支持。

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