当前位置:新励学网 > 秒知问答 > 什么是二次离子质谱分析法

什么是二次离子质谱分析法

发表时间:2024-10-09 06:17:26 来源:网友投稿

二次离子质谱分析法(SIMS)是一种用于分析固体表面原子组成的技术。在这种分析方法中,样品表面原子被高能离子束轰击,产生二次离子。通过测量这些二次离子的质量和数量,可以确定样品表面的元素组成。SIMS具有极高的灵敏度和深度分辨率,能够分析非常微量的样品,广泛应用于地质学、材料科学、生物学等领域。例如在考古学中,SIMS可用于分析古代文物表面的污染物,揭示文物的历史背景。

免责声明:本站发布的教育资讯(图片、视频和文字)以本站原创、转载和分享为主,文章观点不代表本网站立场。

如果本文侵犯了您的权益,请联系底部站长邮箱进行举报反馈,一经查实,我们将在第一时间处理,感谢您对本站的关注!