什么是二次离子质谱分析法
发表时间:2024-10-09 06:17:26
来源:网友投稿
二次离子质谱分析法(SIMS)是一种用于分析固体表面原子组成的技术。在这种分析方法中,样品表面原子被高能离子束轰击,产生二次离子。通过测量这些二次离子的质量和数量,可以确定样品表面的元素组成。SIMS具有极高的灵敏度和深度分辨率,能够分析非常微量的样品,广泛应用于地质学、材料科学、生物学等领域。例如在考古学中,SIMS可用于分析古代文物表面的污染物,揭示文物的历史背景。
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