芯片测试专业用语是什么
发表时间:2025-03-17 04:35:05
来源:网友投稿
芯片测试专业用语包括“良率”、“缺陷”、“良片”、“废片”、“测试芯片”、“探针测试”、“FPGA测试”、“封装测试”等。良率是指芯片合格的比例,缺陷是指芯片上的不良点,良片是指经过测试合格的芯片,废片则是测试不合格的芯片。探针测试是一种检测芯片内部电路的方法,FPGA测试则是针对可编程逻辑器件的测试,封装测试则是确保芯片封装质量的过程。这些专业用语在芯片生产、测试和应用中扮演着重要角色。
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