芯片测试专业用语怎么说
发表时间:2025-04-04 14:06:26
来源:网友投稿
芯片测试专业用语通常包括“良率”、“失效分析”、“功能测试”、“性能测试”、“老化测试”等。良率是指合格芯片的比例;失效分析是通过检测芯片故障原因的过程;功能测试确保芯片按照设计规格工作;性能测试评估芯片的性能指标;老化测试则是模拟芯片长时间运行,以检测其长期稳定性。这些术语帮助工程师评估芯片的质量和性能。
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